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產(chǎn)品中心

Product Center

當(dāng)前位置:首頁(yè)產(chǎn)品中心科研教學(xué)類(lèi)實(shí)驗(yàn)臺(tái)DP-FD-SMOKE-A表面磁光克爾效應(yīng)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)

表面磁光克爾效應(yīng)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

表面磁光克爾效應(yīng)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)它在磁性薄膜的磁有序、磁各向異性、層間耦合和磁性薄膜的相變行為等方面的研究中都有重要應(yīng)用。應(yīng)用該系統(tǒng)可以自動(dòng)掃描磁性樣品的磁滯回線(xiàn),從而獲得薄膜樣品矯頑力、磁各異性等方面的信息。另外,該系統(tǒng)可以和真空系統(tǒng)相連,對(duì)磁性薄膜和薄膜行原位測(cè)量。

產(chǎn)品型號(hào):DP-FD-SMOKE-A
更新時(shí)間:2022-05-06
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪(fǎng)問(wèn)量:1048
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品牌其他品牌產(chǎn)地類(lèi)別國(guó)產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,建材,電子波長(zhǎng) 650nm

1.表面磁光克爾效應(yīng)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)   型號(hào);DP-FD-SMOKE-A

1845年,Michael Faraday發(fā)現(xiàn)了磁光效應(yīng),他發(fā)現(xiàn)當(dāng)外加磁場(chǎng)加在玻璃樣品上時(shí),透射光的偏振面將發(fā)生旋轉(zhuǎn)的效應(yīng),隨后他在外加磁場(chǎng)之金屬表面上做光反射的實(shí)驗(yàn),但由于他所謂的表面并不夠平整,因而實(shí)驗(yàn)結(jié)果不能使人信服。1877年John Kerr在觀察偏振化光從拋光過(guò)的電磁鐵磁反射出來(lái)時(shí),發(fā)現(xiàn)了磁光克爾效應(yīng)(magneto-optic Kerr effect)。1985年Moog和Bader兩位學(xué)者行鐵薄膜磊晶成長(zhǎng)在金單晶(100)面上的磁光克爾效應(yīng)量做實(shí)驗(yàn),成地得到原子層厚度磁性物質(zhì)之磁滯回線(xiàn),并且提出了以SMOKE來(lái)作為表面磁光克爾效應(yīng) (surface magneto-optic Kerr effect)的縮寫(xiě),用以表示應(yīng)用磁光克爾效應(yīng)在表面磁學(xué)上的研究。由于此方法之磁性解析靈敏度達(dá)原子層厚度,且儀器配置合于真空系統(tǒng)之作,因而成為表面磁學(xué)的重要研究方法。

  表面磁光克爾效應(yīng)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)它在磁性薄膜的磁有序、磁各向異性、層間耦合和磁性薄膜的相變行為等方面的研究中都有重要應(yīng)用。應(yīng)用該系統(tǒng)可以自動(dòng)掃描磁性樣品的磁滯回線(xiàn),從而獲得薄膜樣品矯頑力、磁各異性等方面的信息。另外,該系統(tǒng)可以和真空系統(tǒng)相連,對(duì)磁性薄膜和薄膜行原位測(cè)量。

  儀器主要術(shù)參數(shù):

  1.半導(dǎo)體激光器 波長(zhǎng) 650nm 輸出率 2mW

  2.偏振棱鏡 格蘭-湯普遜棱鏡 通光孔徑 8mm 消光比10 -5 主透射比90%

  3.電磁磁鐵 中心大磁感應(yīng)強(qiáng)度0.3T 磁間隙 30mm

  4.密恒流電源 大電壓 38V 大輸出電流 10A

 


2.磁塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀         型號(hào);DP-FD-ZM-A

 在大專(zhuān)院校的實(shí)驗(yàn)教學(xué)中,塞曼效應(yīng)是經(jīng)典的近代物理實(shí)驗(yàn)內(nèi)容,通過(guò)該實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象的觀察,可以了解磁場(chǎng)對(duì)光產(chǎn)生的影響,認(rèn)識(shí)發(fā)光原子內(nèi)的運(yùn)動(dòng)狀態(tài),加深對(duì)原子磁矩和空間取向量子化的理解,并確測(cè)量電子的荷質(zhì)比。

  DP-FD-ZM-A型磁塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀與儀器相比具有以下特點(diǎn):

  1.磁場(chǎng)由磁鐵提供,具有穩(wěn)定性好,中心磁感應(yīng)強(qiáng)度的特點(diǎn);并且通過(guò)機(jī)械調(diào)節(jié)改變磁頭間距,調(diào)節(jié)中心的磁感應(yīng)強(qiáng)度。

  2.實(shí)驗(yàn)儀的磁鐵和光學(xué)導(dǎo)軌固定連接,導(dǎo)軌由鋁合金型材制成,表面陽(yáng)氧化,不生銹,并且導(dǎo)軌上配有標(biāo)尺,這樣實(shí)驗(yàn)調(diào)節(jié)方便,重復(fù)性好。

  3.實(shí)驗(yàn)儀配有度特斯拉計(jì),可以確測(cè)定中心磁感應(yīng)強(qiáng)度。

  DP-FD-ZM-A型磁塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀主要由實(shí)驗(yàn)儀主機(jī)(包括特斯拉計(jì)、汞燈電源)、磁鐵、筆形汞燈、會(huì)聚透鏡、干涉濾光片、F-P標(biāo)準(zhǔn)具、偏振片、成像透鏡、讀數(shù)顯微鏡組成。選配件:象素CCD采集系統(tǒng)、USB口外置圖像采集盒、塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)分析軟件。

  儀器主要術(shù)參數(shù):

  1.磁鐵中心磁感強(qiáng)度 1360mT

  2.標(biāo)準(zhǔn)具通光口徑 40mm

  3.標(biāo)準(zhǔn)具空氣隙間隔 2mm

  4.濾光片中心波長(zhǎng) 546.1nm

  5.讀數(shù)顯微鏡度 0.01mm

  6.特斯拉計(jì)分辨率 1mT

  7.CCD有效象素(選配)752×582

 

3.法拉效應(yīng)塞曼效應(yīng)綜合實(shí)驗(yàn)儀         型號(hào);DP-FD-FZ-C

1945年,法拉(Faraday)在探索電磁現(xiàn)象和光學(xué)現(xiàn)象之間的聯(lián)系時(shí),發(fā)現(xiàn)了種現(xiàn)象,當(dāng)束平面偏振光穿過(guò)介質(zhì)時(shí),如果在介質(zhì)中,沿光的傳播方向上加個(gè)磁場(chǎng),就會(huì)觀察到光經(jīng)過(guò)樣品后偏振面轉(zhuǎn)過(guò)個(gè)角度,亦即磁場(chǎng)使介質(zhì)具有了旋光性,這種現(xiàn)象后來(lái)稱(chēng)為法拉效應(yīng)。1896年,荷蘭物理學(xué)家塞曼(P.Zeeman)發(fā)現(xiàn)當(dāng)光源放在足夠強(qiáng)的磁場(chǎng)中時(shí),原來(lái)的條光譜線(xiàn)分裂成幾條光譜線(xiàn),分裂的譜線(xiàn)成分是偏振的,分裂的條數(shù)隨能級(jí)的類(lèi)別而不同,后人稱(chēng)此現(xiàn)象為塞曼效應(yīng)。法拉效應(yīng)和塞 曼 效應(yīng)是19紀(jì)實(shí)驗(yàn)物理學(xué)家的重要成就之,它們有力的支持了光的電磁理論。

  DP- FD-FZ-C型法拉效應(yīng)塞 曼 效應(yīng)綜合實(shí)驗(yàn)儀是在I型的基礎(chǔ)上改而成,將原來(lái)維調(diào)節(jié)的氦氖激光器改為兩維調(diào)節(jié)的半導(dǎo)體激光器,這樣成法拉效應(yīng)時(shí)調(diào)節(jié)更加準(zhǔn)確方便,并且激光輸出率更加穩(wěn)定。電磁鐵中心磁場(chǎng)強(qiáng)度也比以前有了顯著提,大可以達(dá)到1.4T。測(cè)角儀器將原來(lái)的游標(biāo)測(cè)量的方法改為螺旋測(cè)微(將角位移轉(zhuǎn)換為直線(xiàn)位移),這樣讀數(shù)更加方便。該實(shí)驗(yàn)儀可以作為大專(zhuān)院校光學(xué)及近代物理實(shí)驗(yàn)教學(xué)使用,也可以作為測(cè)量材料特性、 光譜及磁光 作用的研究應(yīng)用。

  儀器主要術(shù)參數(shù):

  1. 半導(dǎo)體激光器 波長(zhǎng) 650nm 輸出率 >1.5mW 光斑直徑 約1mm

  2. 電磁鐵 磁感應(yīng)強(qiáng)度約1.35T(與勵(lì)磁電源有關(guān))

  3. 勵(lì)磁電源 輸出電流 5A 輸出電壓 30V

  4.低壓汞燈 啟輝電壓 1500V 燈管直徑 6.5mm

  5.法布里-珀羅標(biāo)準(zhǔn) 通光口徑 40mm 間隔 2mm

  6.讀數(shù)顯微鏡 分辨率 0.01mm 測(cè)量范圍 8mm

  7.法拉效應(yīng) 小測(cè)角約 2分

 


4.磁光效應(yīng)綜合實(shí)驗(yàn)儀(法拉效應(yīng)和磁光調(diào)制)         型號(hào);DP-FD-MOC-A

1945年,法拉(Faraday)在探索電磁現(xiàn)象和光學(xué)現(xiàn)象之間的聯(lián)系時(shí),發(fā)現(xiàn)了種現(xiàn)象,當(dāng)束平面偏振光穿過(guò)介質(zhì)時(shí),如果在介質(zhì)中,沿光的傳播方向上加個(gè)磁場(chǎng),就會(huì)觀察到光經(jīng)過(guò)樣品后偏振面轉(zhuǎn)過(guò)個(gè)角度,亦即磁場(chǎng)使介質(zhì)具有了旋光性,這種現(xiàn)象后來(lái)稱(chēng)為法拉效應(yīng)。

  法拉效應(yīng)有許多應(yīng)用,它可以作為物質(zhì)研究的手段,可以用來(lái)測(cè)量載流子的有效質(zhì)量和提供能帶結(jié)構(gòu)的知識(shí),還可以用來(lái)測(cè)量電路中的電流和磁場(chǎng),特別是在激光術(shù)中,利用法拉效應(yīng)的特性可以制成光隔離器、光環(huán)形器和調(diào)制器等。

 DP-FD-MOC-A型磁光效應(yīng)綜合實(shí)驗(yàn)儀,是臺(tái)綜合研究磁光效應(yīng)的實(shí)驗(yàn)儀器,通過(guò)該實(shí)驗(yàn)儀可以學(xué)習(xí)法拉效應(yīng)的原理,并通過(guò)偏振光正交消光法測(cè)量樣品的費(fèi)爾德常數(shù),還可以通過(guò)磁光調(diào)制的方法確定消光位置,從而提測(cè)量度,這種由淺入深的測(cè)量方法使學(xué)生理解測(cè)量的科學(xué)方法。并通過(guò)調(diào)制的方法可以確測(cè)量不同磁光樣品的光學(xué)特性和特征參量,另外該儀器可以顯示磁光調(diào)制波形,觀測(cè)磁光調(diào)制現(xiàn)象,研究調(diào)制幅度和調(diào)制深度的原理。本儀器有下列特性:1)可對(duì)磁光效應(yīng)差異懸殊的多種磁光介質(zhì)行實(shí)驗(yàn);2)具有大幅度的交流調(diào)制信號(hào)和直流勵(lì)磁,且穩(wěn)流勵(lì)磁正負(fù)連續(xù)可調(diào);3)光強(qiáng)輸出大小用數(shù)字顯示,確直觀;4)調(diào)制光接收靈敏度,輸出波形穩(wěn)定;5)檢偏裝置帶游標(biāo)測(cè)角機(jī)構(gòu),分辨率。

  儀器主要術(shù)參數(shù):

  1.磁光介質(zhì) 法拉旋光玻璃

  2.激光光源 半導(dǎo)體激光器(波長(zhǎng)650nm)輸出率 <2.5mW

  3.直流勵(lì)磁電流 0—5A(連續(xù)可調(diào),數(shù)字顯示)

  4.調(diào)制信號(hào) 頻率500Hz(正弦波)

  5.起偏器角度分辨率 1度

  6.檢偏分辨率 約3分

 


5.微波鐵磁共振實(shí)驗(yàn)儀       型號(hào);DP-FD-FMR-A

鐵磁共振在磁學(xué)乃至固體物理學(xué)中都占有重要地位,它是微波鐵氧體物理學(xué)的基礎(chǔ)。微波鐵氧體在雷達(dá)術(shù)和微波通訊方面都已經(jīng)獲得重要應(yīng)用。DP-FD-FMR-A 型微波鐵磁共振實(shí)驗(yàn)儀是用來(lái)成鐵氧體樣品鐵磁共振曲線(xiàn)測(cè)量實(shí)驗(yàn)教學(xué)的近代物理實(shí)驗(yàn)儀器,它主要用來(lái)測(cè)量 YIG 單晶和多晶樣品的共振譜線(xiàn),測(cè)量 g 因子、旋磁比γ 、 共振線(xiàn)寬ΔH 以及弛豫時(shí)間 τ , 并分析微波系統(tǒng)的特性。該儀器具有測(cè)量準(zhǔn)確、穩(wěn)定可靠、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容豐富等優(yōu)點(diǎn),可以用于物理年級(jí)學(xué)生專(zhuān)業(yè)實(shí)驗(yàn)以及近代物理實(shí)驗(yàn)。

儀器主要成以下實(shí)驗(yàn):

1. 了解和掌握各個(gè)微波 器件的能及其調(diào)節(jié)方法,了解鐵磁共振的測(cè)量原理和實(shí)驗(yàn)條件,通過(guò)觀測(cè)鐵磁共振現(xiàn)象認(rèn)識(shí)磁共振的般特性。

2.通過(guò)示波器觀察YIG多晶小的鐵磁共振信號(hào),確定共振磁場(chǎng),根據(jù)微波頻率計(jì)算單晶樣品的g因子和旋磁比 γ。

3.通過(guò)數(shù)字式檢流計(jì)測(cè)量諧振腔輸出率與磁場(chǎng)的關(guān)系,描繪共振曲線(xiàn),確定共振磁場(chǎng)Hγ,并根據(jù)測(cè)量曲線(xiàn)確定共振線(xiàn)寬ΔH ,估算 YIG多晶樣品的弛豫時(shí)間 τ。

4.測(cè)量已經(jīng)定向的YIG單晶樣品共振磁場(chǎng)與θ 的關(guān)系,確定易磁化軸共振磁場(chǎng) H0[111] 與難磁化軸共振磁場(chǎng) H0[001]的大小,計(jì)算各向異性常數(shù) K g 因子。

儀器主要術(shù)參數(shù):

1.微波頻率計(jì) 測(cè)量范圍 8.2GHz-12.4GHz 分辨率 0.005GHz

2.?dāng)?shù)字式斯計(jì) 量程:20000Gs 分辨率 1Gs

3.勵(lì)磁電源:0-6V 連續(xù)可調(diào),分辨率0.01V

4. 調(diào)制磁場(chǎng): 50Hz,0-16V(峰峰值)連續(xù)可調(diào)

5. 檢流計(jì): 20mA檔 分辨率0.01mA 2mA檔 分辨率0.001mA

 注:頁(yè)面價(jià)格只是配件價(jià)格或產(chǎn)品庫(kù)存數(shù)量,并非產(chǎn)品價(jià)格  具體價(jià)格面議  如給您帶來(lái)不便請(qǐng)諒解


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